Меню раздела

Сканирующий атомно-силовой микроскоп Solver P47 PRO, предназначенный для исследований поверхностей голограммных (ГОЭ), дифракционных элементов (ДОЭ) и киноформных оптических элементов (КОЭ). Разрешение – 5 нм.

Атомно-силовой микроскоп представляет собой систему образец + игла. На малых расстояниях между двумя атомами, один на подложке, другой на острие, при расстоянии около одного ангстрема действуют силы отталкивания, а на больших — силы притяжения. Величина этого усилия экспоненциально зависит от расстояния образец-игла. Отклонения зонда при действии близко расположенных атомов регистрируются при помощи измерителя наноперемещений, в частности, используют оптические, ёмкостные или туннельные сенсоры. Добавив к этой системе устройство развёртки по осям X и Y, получают сканирующий АСМ.

Основными функциональными устройствами, входящими в состав прибора Solver PRO-47H, являются:

  • измерительный блок;
  • блок подвода и сканирования;
  • измерительная головка;
  • сканер;
  • платформа с виброизолирующей системой;
  • защитный колпак;
  • система видеонаблюдения;
  • система управления:
  • СЗМ контроллер;
  • компьютер с интерфейсной платой.