Меню раздела

Контроль параметров рельефно-фазовых элементов с помощью современных методов оптической, электронной и зондовой микроскопии

Оптическая микроскопия

› Исследовательский оптический микроскоп для металлографии и материаловедения (Carl Zeiss Axio Imager Z2m)

Совокупность методов наблюдения микрообъектов с помощью различных оптических микроскопов. Эти методы существенно зависят от типа объектива микроскопа, вспомогательных приспособлений к нему, вида микрообъекта и способа подготовки его для наблюдения, а также от характера его освещения при наблюдении.

  

Электронная микроскопия

› Сканирующий электронный микроскоп (Carl Zeiss EVO-MA-10)

В течение последних десятилетий электронная микроскопия нашла свое применения в различных областях науки и производства. Сегодня, сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) широко применяются в традиционных исследованиях материалов и их повреждений, электронной и полупроводниковой индустрии, и даже биологии, химии и других естественных науках. Благодаря легкому и удобному управлению современными инструментами, большинство лабораторий можно вряд ли представить себе без использования СЭМ для быстрых и точных решений их прикладных задач. Более того, СЭМ имеют ряд преимуществ перед традиционной световой микроскопией и другими аналитическими методами: • Улучшенные возможности разрешения • Большая глубина фокуса • Меньше работы, связанной с подготовкой образца • Простая интерпретация изображения благодаря эффекту трехмерного восприятия • Использование различных контрастирующих методов для создания изображения • Относительно простая стыковка с другими методами микроанализа Все это делает СЭМ уникальным инструментом для анализа различных материалов.

Зондовая микроскопия

› Сканирующий атомно-силовой микроскоп Solver P47 PRO

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) — сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения, основанный на взаимодействии зонда кантилевера с поверхностью исследуемого образца. Обычно под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание зонда кантилевера, вызванное силами Ван-дер-Ваальса. При использовании специальных кантилеверов можно изучать электрические и магнитные свойства поверхности. В отличие от сканирующего туннельного микроскопа, с помощью АСМ можно исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности. Кроме того, АСМ способен измерять рельеф образца, погружённого в жидкость, что позволяет работать с органическими молекулами, включая ДНК. Пространственное разрешение атомно-силового микроскопа зависит от радиуса кривизны кончика зонда. Разрешение достигает атомарного по вертикали и существенно превышает его по горизонтали.